牧德將發表多項檢測設備,助供半導體與 PCB
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標題: 牧德將發表多項檢測設備,助供半導體與 PCB
作者: 蘇 子芸
發表時間: 2026-04-22 19:10:49
PCB
半導體
材料、設備
AOI 檢測
牧德
描述: 自動光學檢測設備廠牧德科技將於 4 月 23 日在昆山舉行新產品發表會,一次推出多項半導體與高階 PCB 檢測 […]
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